LS-2000激光光束分析仪

一、简介：

LS-2000激光光束分析仪由北京物科光电技术有限公司与美国SensorPhysics公司在LS系列产品的基础上开发研制的的最新版本。

LS-2000是用于分析激光光束强度（功率、能量）的二维分布、测量光束直径等参数的仪器。它在激光器研制、生产及应用中是必不可少的测试工具。

LS-2000的硬件可靠性高，软件升级方便。

二、组成部分：

1.基本系统：

包括LS-2000专用图象采集卡及专用软件包。专用图象采集卡用于处理来自光图象探测器的模拟信号，将其变为PC机可接受的数字信号后送入PC机处理；LS-2000专用软件包由“实时探测”，“存贮功能”，“分析测试”等几部分组成。

2.图象探测器：

根据被测激光的使用波长，可选以下探测器：

a)可见及近红外波段（400nm－1100nm）

常用激光器如He-Ne，Ar离子，YAG、YVO4及其倍频，半导体发光管及激光管，染料及钛宝石激光器的输出波长均在此波长范围内。这一波段的图象探测器可选用通常的硅CCD（电荷耦合器件）摄像机，根据测试的需要可选标准型、专用型等不同档次的摄像机。

b)紫外－可见－近红外（193nm-1100nm）

经特殊处理的硅CCD摄像机可工作于这一波段，可用于测量YAG激光的三、四倍频等。

c)可见及近红外（0.4μm-2.2μm）

这一波长范围主要使用PbO，PbS光电阴极的真空摄像管作为图象探测器。

d)中红外（1.5μm-12μm）

主要用于测量CO2激光及其倍频等。可选用热电（Pyroelectric）型探测器矩阵作为图像探测器。

3.电脑及打印机

可选用任何装有相当于奔腾级CPU以上的PC类电脑。分析软件需运行在Windows95或以上版本的平台。打印机用于输出测试结果，建议使用彩色喷墨打印机。

4.光学暗箱

由于被探测的激光强度通常高出图象探测器接收灵敏度若干个量级，因此必须将被测激光强度衰减到探测器的线性工作区内，并妥善屏蔽高灵敏的图象探测器使其不受杂散光的影响。光学暗箱由箱体、电源及 楔形石英反射分束器、反射器、中性衰减片组、光陷阱及相应光学调节架组成。

a).楔形石英反射分束器：利用被测光束在其第一入射表面的反射光束（反射率约4％）作为光束分析仪的取样光束（可能要需进一步衰减）。由于石英的热吸收及热胀系数均很小，故石英分束器可在较强入射光的情况下保证被测光束的光斑不畸变；楔形反射器的两个表面成一定夹角，可将两个反射光束分开，不发生干涉。

b).中性衰减器由两组旋臂式衰减片组串联组成 。每组4片衰减片，其透过率各不相同。

利用旋臂，可方便地组合衰减倍率以细调进入探测器的光功率、能量。

c).光陷阱是用于吸收不用的衍射光束，以消除杂光干扰。

d).楔形石英反射分束器、反射器均置于光学精密调节架上，以保证其平稳调节。

e).电源及信号输出线 ；

f).光学暗箱的空间按可同时放入两组光图象探测器的空间设计。

三、系统主要性能、指标：

1.与PC有关的性能：

软件平台：LS-2000工作在Win95；98；NT；2000平台上；

图象采集卡：1/2尺寸的PCI卡；

图象分辨率：640x480或320x240，256色；

图象探测器的输出接口：RS-170（NTSC）,CCIR（PAL)

2.图象获取功能

实时采集：可随时监测光束强度(功率、能量)的二维分布、给出三维分布图及通过光束内任一点的沿X-Y方向的光强分布曲线，并显示直径等参数。

图象“冻结”：可根据需要捕获典型的光束图象，作为TIFF文件存贮，供分析处理。

连续及脉冲图象的“抓取”：LS-2000具有“软触发”功能，其软触发阈值可以调节。它不需要触发电脉冲，增加了使用的方便性和安全性，特别是对于Q开关脉冲激光器的场合，由于不需要电脑与激光器之间的电信号相接，大减小了硬件损坏及相互干扰的可能性。

3.分析测量功能

二维光束截面功率、能量分布；

光束截面功率、能量的三维图（任意方位角，俯仰角）；

通过光束截面内任一点沿X，Y方向的光强分布；

不同定义下的光束直径及与高斯分布的拟和程度；

4.其它功能

自动反差调整功能

快速连续取、放多幅图象

打印功能——将屏幕上显示的内容或被选取的部分“所见即所得”地打印出（可与激光、喷墨等多种型号打印机兼容）。